X선형광분석 (X-ray Fluorescence Analysis)

고고학
한 줄 정의: 시료에 X선을 조사하여 원소별로 고유하게 방출되는 형광 X선을 측정함으로써 시료를 파괴하지 않고 원소 조성을 분석하는 비파괴 분석 기법이다.

쉽게 풀면

물체에 X선을 쏘아서 나오는 특별한 빛을 측정해 그 물체가 어떤 성분으로 이루어져 있는지 물체를 손상시키지 않고 알아내는 방법이다.

논문에서는 이렇게 쓰입니다

청동유물 표면에 대한 X선형광분석 결과 구리, 주석, 납의 합금 비율이 확인되어 당시의 청동 합금 기술 수준을 파악할 수 있었다.

금속유물의 성분 분석이나 안료 분석에서 시료 손상 없이 신속하게 결과를 얻을 수 있는 장점이 강조되며, 휴대용 장비를 이용한 현장 분석 사례도 함께 언급된다.

주의할 점

표면만을 분석하는 특성상 부식층이나 오염층이 있으면 실제 합금 조성과 다른 결과가 나올 수 있어 분석 전 표면 처리 여부를 명시해야 한다.

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